《粉末衍射法测定晶体结构(第2版)(套装上下册)》简要介绍了X射线衍射的晶体学基础、化合物结构的晶体 化学 基础概念、X射线粉末衍射的实验 方法 和衍射强度的测量。系统全面地论述了粉末衍射图谱的指标化、点阵常熟的精确测量以及新型化合物晶体结构测定的各种方法。
2003年4月第1版 2011年3月第2版，有2012年1月3印本
1. 本站资源仅供学习和交流，须在下载后24小时内删除！ 2. 本站资源不得用于非法商业用途，不得违反国家法律！ 3. 本站资源链接若无法下载或失效，请联系管理员处理！
上一篇陈垣年谱配图长编(上下)
下一篇艾森豪威尔将军战争回忆录
发表评论
回复评论: 取消回复
评论列表
发表评论