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内容简介

《集成电路测试指南》将半导体集成电路测试原理与实际测试实现过程相结合，内容涵盖半导体集成电路测试流程，测试原理以及集成运算放大器、电源 管理 芯片、电可擦除 编程 只读存储器芯片、微控制器芯片、数模转换芯片等 产品 的测试实例。

《集成电路测试指南》的特点是理论与实践相结合，避免了“纸上谈兵”。

通过 学习 《集成电路测试指南》，读者可以对集成电路测试有一个全面的认识，从而快速进入半导体集成电路测试工程领域。《集成电路测试指南》的主要读者是即将从事集成电路测试 工作 的工程师和大学或职业 教育 领域相关专业的学生。

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